科利登系統(tǒng)有限公司（CredenceSystemsCorp）,日前宣布威盛電子股份有限公司（VIATechnologies,Inc.）成為TW地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計,調(diào)試和特征分析的先進的電性失效分析實驗室的無生產(chǎn)線的芯片設(shè)計公司�？评强捎糜�65nm技術(shù)的完備實驗室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案
科利登系統(tǒng)有限公司（Credence Systems Corp）,日前宣布威盛
電子股份有限公司（VIA Technologies, Inc.）成為TW地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計,調(diào)試和特征分析的先進的電性失效分析實驗室的無生產(chǎn)線的芯片設(shè)計公司。
科利登可用于65nm技術(shù)的完備實驗室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時故障隔離的成本。同時,它也能在芯片設(shè)計和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進行有效的特征分析。用戶可以擺脫只依賴CAD工具在有限的時間內(nèi)進行失效分析的局面。
威盛電子
MPE部門的副總裁Shelton Lu說.：“威盛準(zhǔn)確把握新技術(shù)的市場動向,并將它融入到我們的芯片產(chǎn)品和各種核心邏輯芯片組里面,從而能持續(xù)保持它在業(yè)界領(lǐng)先地位。因為只需與同一個公司合作,所以我們能夠在整個設(shè)計和調(diào)試流程中很好地利用科利登的技術(shù)和專業(yè)優(yōu)勢�？评悄芴峁┮徽淄陚涞南冗M實驗室解決方案,涵蓋了那些所必需的先進調(diào)試工具,同時又保護了fabless和foundry之間的那些臨界知識產(chǎn)權(quán)�？评堑慕鉀Q方案非常適合威盛的商業(yè)模式。 ”
