消費(fèi)類電子產(chǎn)品正在變得更復(fù)雜和更快速,因而使得測試成本成為問題。大的和復(fù)雜的SoC往往是消費(fèi)類產(chǎn)品的心臟,不管它們的性能多么先進(jìn),其成本必須是低的。各種內(nèi)裝自測試（BIST）已應(yīng)用于測試DUT（被測器件）的內(nèi)部性能,導(dǎo)致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問題是快速串行接口（如PCIExpress,SerialATA,FibreChannel和SerialRapidio）的全面測試。這些高速鏈路在計(jì)算、通信和音視頻娛樂前進(jìn)中是不可缺少的。重視測試成本是一個(gè)重要的
消費(fèi)類電子產(chǎn)品正在變得更復(fù)雜和更快速,因而使得測試成本成為問題。大的和復(fù)雜的
SoC往往是消費(fèi)類產(chǎn)品的心臟,不管它們的性能多么先進(jìn),其成本必須是低的。
各種內(nèi)裝自測試（BIST）已應(yīng)用于測試DUT（被測器件）的內(nèi)部性能,導(dǎo)致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問題是快速串行接口（如
PCIExpress,Serial ATA,FibreChannel和Serial Rapidio）的全面測試。這些高速鏈路在計(jì)算、通信和音視頻娛樂前進(jìn)中是不可缺少的。
重視測試成本是一個(gè)重要的問題,設(shè)計(jì)人員已應(yīng)用BIST技術(shù)到串行I/O口中。通常,器件制造商選擇用一般的ATE加具有寬范圍幅度和定時(shí)控制的位圖形或在環(huán)回配置中BTST產(chǎn)生固定幅度和定時(shí)圖形。第一種方法是精確和慢速的;第二種方法是快速的,但只在單工作點(diǎn)保證性能。
BIST Assist 硬件插入到環(huán)路中（見圖1）�？刂栖浖С植煌男盘�(hào)幅度和延遲,這樣用所有可允許的值檢驗(yàn)其工作�？梢宰⑷胍阎钠茐牧浚ㄈ缍秳�(dòng),偏移和共模信號(hào)）確保在最佳條件下正確的DUT行為。圖2示出1個(gè)信道的詳細(xì)框圖。
BIST Assist 板上4個(gè)分立不同環(huán)路的每1個(gè)環(huán)路的硬件性能指標(biāo)包括：數(shù)據(jù)率1.5_6.4Gb/S,
100mV輸入靈敏度（到
100Ω負(fù)載）和1.8VPK-PK差分
接收器范圍。從板上正弦波發(fā)生器或430ps的外部
信號(hào)源在10KHz_100MHz加抖動(dòng)。
