泰克面向高速串行測試推出多款應(yīng)用新品
PCI-Express、RapidIO、HDMI和SATA等串行數(shù)據(jù)總線架構(gòu)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于數(shù)字環(huán)境中，元器件間或內(nèi)部傳輸?shù)臄?shù)據(jù)速率已達(dá)3Gbps、6Gbps甚至12Gbps。在通過電路板、背板和電纜傳送時，高速串行數(shù)據(jù)信號將發(fā)生高頻損耗，為此，高速串行設(shè)計中，需對整個系統(tǒng)進(jìn)行測試，包括發(fā)射機(jī)、接收機(jī)及傳輸路徑（或電纜）等。高速串行測試具體包括：屬于事務(wù)層與數(shù)據(jù)鏈路層的系統(tǒng)集成與數(shù)據(jù)鏈路分析，及屬于物理層的信號完整性測試、接收機(jī)測試與一致性測試等環(huán)節(jié)。日前，泰克針對物理層高速串行測試的各個環(huán)節(jié)，推出了相應(yīng)的解決方案，幫助客戶完成高速串行設(shè)計。
20 GHz帶寬高速探頭
P7520探頭提供了20 GHz帶寬，允許客戶調(diào)試和驗證10Gbit/s信號的第三個諧波，在8 Gbit/s的信號上，直到第五諧波執(zhí)行一致性測試，包括PCI-Express 3、SATA Gen-3和HDMI 1.3。相對于16GHz探頭，使用20 GHz探頭捕獲的8 Gbit/s信號，圖像清晰，顯著降低了失真。
P7500系列探頭提供TriMode三模測量功能，使用一條探頭連接可同時實現(xiàn)單端、差分與共模三種測量方式，實現(xiàn)更高效率和簡便易用性。為便于連接，P7520采用流線化探頭機(jī)身，因此多只探頭可以放到有限的空間中�？苫Q的探頭尖端模塊提供了微型焊接尖端和可互換擴(kuò)展電纜輔助裝置，可以到達(dá)探測困難的區(qū)域，針頭手持式探頭模塊則可以用于夾具式應(yīng)用和手持式應(yīng)用。
“全內(nèi)置”串行數(shù)據(jù)接收機(jī)測試解決方案
泰克推出SerialXpress高級軟件，新軟件為高速串行數(shù)據(jù)接收機(jī)測試直接合成波形，適合測試SATA、SAS、PCI-Express、HDMI和DisplayPort串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)及工作速率在6 Gbps以下的串行總線技術(shù)。SerialXpress管理波形的創(chuàng)建工作，并在AWG7000系列任意波形發(fā)生器上高速傳送波形。SerialXpress軟件提供的簡便易用的界面提高了高速串行波形的創(chuàng)建和管理的直觀程度。而裝有SerialXpress軟件的AWG7000則是構(gòu)成用于接收機(jī)極限測試和BER測試的全內(nèi)置高速串行數(shù)據(jù)信號發(fā)生器，令用戶無需使用多臺儀器和復(fù)雜的測試配置即可完成測試。
全自動SATA一致性測試解決方案
標(biāo)準(zhǔn)一致性測試是設(shè)計人員面臨的一大挑戰(zhàn)，最新標(biāo)準(zhǔn)要求同時控制多臺儀器和被測設(shè)備，生產(chǎn)效率的市場壓力與要求的復(fù)雜測量數(shù)量迅速增長。SATA Gen-2中要求進(jìn)行多達(dá)150項測試，這意味著自動化和重復(fù)測量成為必然。而隨著標(biāo)準(zhǔn)的不斷更新，設(shè)計人員必須能迅速簡便地增加和修改測試程序和參數(shù)。此外，還需要進(jìn)行多次的測試，把多臺儀器的測試和結(jié)果結(jié)合起來。按照當(dāng)前傳統(tǒng)方案，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一致性測試可能需要幾天的時間，而對于半導(dǎo)體廠商而言，時間就是生命。
