在測(cè)試系統(tǒng)中,測(cè)試產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時(shí)間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力即為可靠性。測(cè)試系統(tǒng)的每一部分都會(huì)不同程度的影響整個(gè)系統(tǒng)的可靠性,由于部分的失效引起的系統(tǒng)失效的概率也就不同。
隨著存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展,存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)逐漸模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化和系列化。如果將一些功能模塊制成ASIC,就會(huì)滿足動(dòng)態(tài)測(cè)試對(duì)測(cè)試裝置的要求,并使存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)可靠性得到極大地提高。圖1 為使用專用集成電路設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)。電荷放大器是測(cè)試系統(tǒng)中的一個(gè)串聯(lián)環(huán)節(jié),因此它的失效直接影響整個(gè)系統(tǒng)的失效。
圖2 為電荷放大器原理圖。
壓電晶體受到壓力作用產(chǎn)生電荷Q;Ca 是傳感器級(jí)間電容,Qa 是此時(shí)充到Ca 中的電荷;Cc 是傳感器傳輸電纜的電容,Qc是此時(shí)充到Cc 中的電荷,Gc 是輸入電纜漏電導(dǎo);Ci是電荷放大器的輸入電容,Qi 是此時(shí)充到Ci 中的電荷,Gi 是放大器的輸入電導(dǎo);Ud 是此時(shí)在運(yùn)算放大器反相輸入端上產(chǎn)生的差動(dòng)電壓;Cf 是電荷放大器的反饋電容,作用到Cf 兩端的電壓是Ud 和輸出電壓U0 的差值,Qf 是此時(shí)充入Cf 的電荷,Gf 是放大器的反饋電導(dǎo);運(yùn)算放大器的開環(huán)系數(shù)為A,由于電壓是反向輸入,所以:
U0=-A×Ud
因此作用在Cf 兩端的電壓為:
Ucf=Ud-(-A×Ud)=Ud×(1+A)
假設(shè)反饋電阻Rf的阻值為無(wú)限大:
Q=Qa+Qc+Qi+Qf=Ud×(Ca+Cc+Ci+(1+A)Cf)
所以