電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)是工程和技術(shù)所不可或缺的組成部分。電子電氣設(shè)各和系統(tǒng)的EMC標(biāo)準(zhǔn)在全世界范圍都引起了關(guān)注。從國(guó)際范圍看，電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的制定已經(jīng)經(jīng)歷了七十多年的發(fā)展歷程，早年從保護(hù)無(wú)線電通信和廣播出發(fā)，“IEC／CISPR”和“MIL-STD-461D”對(duì)各種用電設(shè)各和系統(tǒng)提出了一系列電磁騷擾發(fā)射限值和測(cè)量方法，分別如表1和表2所示。到了20世紀(jì)60～70年代，由于設(shè)備小型化、數(shù)字化和低功耗化，開(kāi)始考慮設(shè)備的抗干擾能力。一些國(guó)家正在轉(zhuǎn)向不僅對(duì)軍事和航空系統(tǒng)，也對(duì)普通工業(yè)設(shè)備和消費(fèi)品規(guī)定強(qiáng)制執(zhí)行EMC性能標(biāo)準(zhǔn)。信息技術(shù)產(chǎn)品的使用、增多必將加速EMC性能標(biāo)準(zhǔn)的出臺(tái)，信息技術(shù)產(chǎn)品的使用、增多也必將加快EMC標(biāo)準(zhǔn)普遍使用的步伐。
表1“IEC／CISPR”的發(fā)射極限
表中“米”表示隨著頻率的對(duì)數(shù)變化而線性減小。
表2“MIL-STD-461D”中規(guī)定的輻射發(fā)射的極限值
為什么要制定EMI／EMC相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)昵？大多數(shù)電子電氣設(shè)備、電路和系統(tǒng)都會(huì)有意或者無(wú)意地發(fā)射電磁能量，同時(shí)，許多現(xiàn)在電子裝置、電路和設(shè)備能夠響應(yīng)這種電磁干擾或者受其影響，各種設(shè)各既是罪犯也是受害者.為了對(duì)不同的設(shè)備制定合理的電磁發(fā)射電平的限制及抗干擾限值，就必須達(dá)成一種共識(shí)，其目的是要成為能夠輔助生產(chǎn)廠家、使用者及其他可能相關(guān)者的指南。
國(guó)際上對(duì)電磁干擾“EMI”和電磁兼容“EMC”的測(cè)試和評(píng)估包括以下方面。
· 傳導(dǎo)發(fā)射（CE）；
· 輻射發(fā)射（RE）；
· 傳導(dǎo)發(fā)射的敏感度／抗擾度（CS）；
· 輻射發(fā)射的敏感度／抗擾度（RS）。
根據(jù)不同電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)在電磁兼容測(cè)試中的不同地位，電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)（體系）可分為4級(jí)，分別是：
· 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)；
· 通用標(biāo)準(zhǔn)：
· 產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)；
· 專(zhuān)用產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。
這些標(biāo)準(zhǔn)對(duì)各種各樣的設(shè)備與系統(tǒng)都做了相當(dāng)詳盡的電磁兼容性要求，同時(shí)也提供了比較詳盡的測(cè)試內(nèi)容。
在通用的電磁騷擾發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)和抗擾度標(biāo)準(zhǔn)中確定了試驗(yàn)端口，所謂試驗(yàn)端口是指產(chǎn)品的電磁騷擾可能發(fā)射或感受干擾的部位。這些部位是機(jī)殼、交流電源線、直流電源線、接地線、信號(hào)線、過(guò)程測(cè)量與控制線等，如圖1所示。對(duì)具體的電氣和電子產(chǎn)品而言，不可能包含所有的端口，所以試驗(yàn)還是要按實(shí)際情況而定。
圖1 設(shè)備的試驗(yàn)端口
一般抗干擾的方法應(yīng)用到設(shè)備的外圍或是前端時(shí)，就可以達(dá)到降低電磁騷擾的目的；當(dāng)應(yīng)用到設(shè)備內(nèi)部或是后端時(shí)，就可以作為減少對(duì)環(huán)境產(chǎn)生電磁干擾的方法。當(dāng)然，這只是一種理想的說(shuō)法，對(duì)于不同的問(wèn)題，還是要具體情況具體分析。
對(duì)于不同的產(chǎn)品有不同的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)要求，比如家電、工業(yè)設(shè)備和醫(yī)療設(shè)備等，往往都有不同的要求，但電源測(cè)試是絕對(duì)不可或缺的共同部分，一般電磁兼容的測(cè)試，通常包括對(duì)機(jī)殼、接口、電源等部分的一系列測(cè)試。
工程實(shí)踐中，電磁兼容性測(cè)試的試驗(yàn)歸結(jié)起來(lái)可以分為3類(lèi)：
（1）高頻電磁騷擾的發(fā)射測(cè)試
