設(shè)計和測試工程師們現(xiàn)在可以使用美國國家儀器公司（NationalInstruments,簡稱NI）最新推出的PCI版本的PXI-5922可變分辨率數(shù)字化儀（也稱為基于PC的示波器）可以實現(xiàn)較大動態(tài)范圍的測量。PXI-5922數(shù)字化儀提供目前市場上數(shù)字化儀產(chǎn)品中最高的動態(tài)范圍,這一具有無與倫比動態(tài)性能和靈活性的通用儀器現(xiàn)在正式推出PCI版本,適用于包括通訊、半導體、生化以及超音速非破壞性測試(ultrasonicnondestructivetest,NDT)的許多領(lǐng)域。不同于傳統(tǒng)
設(shè)計和測試工程師們現(xiàn)在可以使用美國國家儀器公司（National Instruments,簡稱
NI）最新推出的
PCI版本的
PXI-5922可變分辨率數(shù)字化儀（也稱為基于PC的
示波器）可以實現(xiàn)較大動態(tài)范圍的測量。PXI-5922數(shù)字化儀提供目前市場上數(shù)字化儀產(chǎn)品中最高的動態(tài)范圍,這一具有無與倫比動態(tài)性能和靈活性的通用儀器現(xiàn)在正式推出PCI版本,適用于包括通訊、半導體、生化以及超音速非破壞性測試(ultrasonic nondestructive test,NDT)的許多領(lǐng)域。
不同于傳統(tǒng)示波器或其他基于PC的數(shù)字化儀在所有采樣率上具有固定的分辨率,NI 5922數(shù)字化儀使用NI Flex II
ADC技術(shù),具有靈活的、用戶自定義的分辨率,并可在
24位（500 kS/s）到
16位（
15 MS/s）之間任何一點進行采樣。NI Flex II ADC是一個加強的多位delta-sigma轉(zhuǎn)換器,它結(jié)合了專利技術(shù),極大地降低了由多位轉(zhuǎn)換器中非線性造成的諧波,因此即便在高采樣率的情況下也可以獲得很好的動態(tài)范圍,可以幫助設(shè)計和測試工程師們直接數(shù)字化底層信號,而無需外部信號調(diào)理（例如
濾波器和低噪聲放大器）。減少信號調(diào)理可以改進測量精度和可靠性,同時還能節(jié)省測試系統(tǒng)的開發(fā)時間和成本。由于這項專利技術(shù)的應(yīng)用,PXI-5922可變分辨率數(shù)字化儀已經(jīng)獲得了多個國際專業(yè)獎項,包括《Test &
amp; Measurement World》雜志的
2006年度測試類產(chǎn)品,以及《EDN》雜志2005年度最熱門百佳產(chǎn)品獎。
工程師們借助使用PXI-5922數(shù)字化儀,已經(jīng)解決了許多要求很高的應(yīng)用,例如高端音頻和
超聲波測試、高分辨率數(shù)－模轉(zhuǎn)換器的特性描述,以及基帶I/Q分析等。舉例來看,Analog Devices公司使用NI PXI-5922數(shù)字化儀來為他們高分辨率的數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器(
DAC)確定穩(wěn)定時間,“我們選擇NI PXI-5922數(shù)字化儀是因為其前所未有的動態(tài)范圍,過濾噪聲后我們可以精確地測量穩(wěn)定時間。” Analog Devices設(shè)計評估工程師Eoin English表示“這是市場上唯一一款具備高輸入
電阻和高動態(tài)范圍的產(chǎn)品,幫助我們輕松地通過NI LabVIEW軟件進行配置和控制,縮短了產(chǎn)品開發(fā)時間�！�
和其他NI數(shù)字化儀一樣,工程師們可以使用這一全新的可變分辨率數(shù)字化儀,任意波形發(fā)生器和數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀在產(chǎn)品開發(fā)的任何一個階段（從設(shè)計驗證到生產(chǎn)測試）創(chuàng)建混合信號應(yīng)用。設(shè)計和測試工程師們可以使用NI數(shù)字化儀,例如NI 5
124 200 MS/s 12位數(shù)字化儀、NI 5122
100 MS/s 14位數(shù)字化儀以及NI PXI-5114
