如圖1所示ITO(In203:SN02=9:1)的微觀結構,In,O,里摻人sn后,sn元素可以代替In,O,晶格中的In元素而以SnO,的形式存在,因為In20,中的In元素是三價,形成SnO,時將貢獻~個電子到導帶上,同時在一定的缺氧狀態(tài)下產(chǎn)生氧空穴,形成1020至1021cm。3的載流子濃度和10至30cm2/vs的遷移率。這個機理提供了在lO叫n.cp!l數(shù)量級的低薄膜電阻率,所以ITO薄膜具有半導體的導電性能。
ITO是一種寬能帶薄膜材料,其帶隙為3.5-4.3ev。紫外光區(qū)產(chǎn)生禁帶的勵起吸收閾值為3.75ev,相當于330nm的波長,因此紫外光區(qū)ITO薄膜的光穿透率極低。同時近紅外區(qū)由于載流子的等離子體振動現(xiàn)象而產(chǎn)生反射,所以近紅外區(qū)ITO薄膜的光透過率也是很低的,但可見光區(qū)ITO薄膜的透過率非常好,由圖2可知。由以上分析可以看出,由于材料本身特定的物理化學性能,ITO薄膜具有良好的導電性和可見光區(qū)較高的光透過率。