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日本:NEC開發(fā)成功1億門單元基LSI
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日本:NEC開發(fā)成功1億門單元基LSI  2012/3/1
日本:NEC開發(fā)成功1億門單元基LSINEC電子設備部開發(fā)成功CB-90系列單元基LSI。最小特征尺寸是0.09μm,采用柵長0.06μm的CMOS方法和銅金屬連線技術制造。準備制造的三種單元基LSI是:高速型CB-90H、高集成度型CB-90M和低功耗型CB-90L。它們的內(nèi)部工作頻率分別為500MHz~1GHz。最高頻率為500MHz、最低為150MHz。高集成度型CB-90M的邏輯門數(shù)最多達到1億門。高速型CB-90H的門延遲時間為10.2ps(2個輸入NAND門,扇出數(shù)為2)。低功耗型CB-9
  日本 :NEC開發(fā)成功1億門單元基LSINEC電子設備部開發(fā)成功CB-90系列單元基LSI。最小特征尺寸是0.09μm,采用柵長0.06μm的CMOS方法和銅金屬連線技術制造。準備制造的三種單元基LSI是:高速型CB-90H、高集成度型CB-90M和低功耗型CB-90L。它們的內(nèi)部工作頻率分別為500MHz~1GHz。最高頻率為500MHz、最低為150MHz。
高集成度型CB-90M的邏輯門數(shù)最多達到1億門。高速型CB-90H的門延遲時間為10.2ps(2個輸入NAND門,扇出數(shù)為2)。低功耗型CB-90L的功耗為2.7nw(每1MHz工作的門,電源電壓1.0V)。與最小特征尺寸為0.130μm、柵長0.095μm的現(xiàn)行一代單元基LSI(CB-130系列)相比,門數(shù)增加約1.9倍,延遲時間縮短約2/3,功耗減少約40%。CB-90系列單元基LSI2003年3月開始接受訂貨,批量生產(chǎn)預定從第三季度開始。
LSI設計環(huán)境準備采用C語言的設計環(huán)境,支持系統(tǒng)設計到GDSII格式。
C語言設計環(huán)境與RTL為基礎的設計方法相比,可使設計時間縮短大約一半。RTL為基礎的設計方法從規(guī)格設計、硬件設計、軟件設計、系統(tǒng)驗證到系統(tǒng)評估,需時大約14個月,而以C語言為基礎的設計,可縮短到大約7個月。再者,應用C語言的設計環(huán)境,也可用于CB-130系列等的現(xiàn)行一代產(chǎn)品。
CB-90系列作為制造方法的設計基準,采用日本國內(nèi)的標準方法共同開發(fā)企業(yè)ASPLA(尖端SoC基礎技術開發(fā))的基準。據(jù)說,將來要使之能夠納入依據(jù)ASPLA的、用其他的ASIC Bender的宏單元。
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