美國國家半導體推出三款LVDS芯片系列的新產(chǎn)品
美國國家半導體公司(National Semiconductor Corporation)宣布推出三款全新的高速接口產(chǎn)品,為該公司的先進低電壓差分信號傳輸(LVDS)芯片系列添加多個新型號。
新推出的SCAN921821 18位LVDS雙串行器設(shè)有預(yù)增強、JTAG測試及業(yè)內(nèi)最高上限的靜電釋放保護等功能,務(wù)求能加強高速接口芯片的驅(qū)動能力,以及擴大其傳送距離。另一款型號為SCAN90CP02的1.5 Gbps 2 x 2 LVDS交叉點開關(guān)除了設(shè)有JTAG測試功能之外,還有上限極高的靜電釋放保護功能及可配置的預(yù)增強功能。此外,美國國家半導體又為一直很受歡迎的DS90LV110 1:10 LVDS中繼器添加了故障防護模式,這款全新的中繼器是該公司今次推出的另一款新產(chǎn)品。
設(shè)有預(yù)增強及JTAG測試功能的LVDS 18位雙串行器
美國國家半導體的SCAN921821芯片是一款15至66 MHz的雙串行器,設(shè)有預(yù)增強及IEEE1149.1的JTAG測試功能。這款芯片內(nèi)含的兩個串行器可各自傳送凈載荷高達1.188 Gbps的數(shù)據(jù),使總傳輸量可高達2.376 Gbps。電纜及底板的損耗會產(chǎn)生符號間的干擾(ISI),導致確定性抖動的出現(xiàn),影響線路的互連效果。SCAN921821芯片設(shè)有高達6dB的可編程預(yù)增強功能,可以減少符號間干擾所引致的抖動,令互連線路的驅(qū)動速度及傳送距離可以大幅提高。SCAN921821芯片也設(shè)有IEEE 1149.1 JTAG及at-speed BIST自我測試等測試功能,可以減低電路板測試及測試開發(fā)方面的成本,而這款芯片的LVDS管腳更設(shè)有帶電插接保護及高達12kV的靜電釋放保護功能。
LVDS 2 x 2 LVDS交叉點開關(guān)
美國國家半導體的SCAN90CP02芯片是一款設(shè)有可編程預(yù)增強功能的2 x 2 LVDS非塊式交叉點開關(guān),操作速度高達1.5Gbps。由于這款芯片設(shè)有預(yù)增強、優(yōu)質(zhì)信號保證以及高達6.5kV的靜電釋放保護功能,因此最適用于場可編程門陣列(FPGA)及特殊應(yīng)用集成電路(ASIC)等芯片。可編程的預(yù)增強功能有助加強FPGA及ASIC的LVDS信號,以免有關(guān)信號在高損耗的底板及電纜之中被減弱。此外,卓越的6.5kV靜電釋放保護功能也有助保護這些昂貴的電路,確保進行帶電插接時有關(guān)電路不會受釋放出來的靜電所影響。由于SCAN90CP02芯片采用2 x 2非塊式的結(jié)構(gòu),因此也適用于需要提供冗余的系統(tǒng)及其他開關(guān)應(yīng)用。SCAN90CP02芯片這個靈活的輸入設(shè)計可與低電壓差分信號傳輸(LVDS)、低電壓正射極耦合邏輯(LVPECL)、共模邏輯(CML)及正射極耦合邏輯(PECL)等信號傳輸方式電子兼容。
設(shè)有故障防護功能的LVDS 1:10中繼器
