測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
??????IC測(cè)試、通信測(cè)試、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試和虛擬儀器的發(fā)展已出現(xiàn)一些新的勢(shì)態(tài)。
???降低測(cè)試成本成為發(fā)展IC測(cè)試的首要目標(biāo)
????對(duì)體積更小、功能更強(qiáng)的芯片的需求正推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,同時(shí)也推動(dòng)著IC設(shè)計(jì)和測(cè)試的發(fā)展。對(duì)于系統(tǒng)芯片（SOC）的測(cè)試,其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據(jù)英特爾公司副總裁提出的測(cè)試摩爾定律,未來幾年,每一晶體管的硅投資成本將低于其測(cè)試成本。 因此未來IC測(cè)試設(shè)備制造商面臨的最大挑戰(zhàn)是如何降低測(cè)試成本。
??? 過去的集成電路主要分為模擬電路、混合信號(hào)電路和數(shù)字電路。１９９８年,稱之為MACH-D的（即存儲(chǔ)器、模擬、通信、高速總線和數(shù)字的英文縮寫）系統(tǒng)芯片問世了。對(duì)這種電路的測(cè)試,將減少功能測(cè)試、更多地采用結(jié)構(gòu)測(cè)試（即對(duì)采用可測(cè)性設(shè)計(jì)的IC進(jìn)行測(cè)試）。采用結(jié)構(gòu)測(cè)試,不用開發(fā)功能測(cè)試矢量,可以縮短測(cè)試開發(fā)時(shí)間,節(jié)省測(cè)試成本。采用內(nèi)置自測(cè)試（即把測(cè)試電路設(shè)計(jì)在芯片或IP核中,通過內(nèi)置測(cè)試電路對(duì)芯片或IP核的測(cè)試）也可大大縮短測(cè)試開發(fā)時(shí)間,降低測(cè)試費(fèi)用,但必須加強(qiáng)IC制造、設(shè)計(jì)和測(cè)試開發(fā)人員的合作,將相關(guān)工具結(jié)合起來,才可使易于測(cè)試的器件更快投入生產(chǎn)。另一種降低測(cè)試成本的測(cè)試方式是采用基于故障的測(cè)試,即測(cè)試可能發(fā)生故障的部分,不測(cè)試不可能發(fā)生故障的部分。通過了解芯片的結(jié)構(gòu),在制造過程中,在可能引入失效機(jī)理的地方設(shè)計(jì)一些測(cè)試電路。這樣既可保證較高的測(cè)試覆蓋率,又能省時(shí)省費(fèi)用。
????解決異步測(cè)試問題,需要制定IP核測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
????目前,設(shè)計(jì)人員設(shè)計(jì)系統(tǒng)級(jí)IC時(shí),已廣泛采用將不同的IP核集成在一起的方式。這樣可大大縮短芯片的上市時(shí)間。將不同廠商的不同IP核集成到一個(gè)器件中可能遇到多個(gè)時(shí)鐘問題。如果設(shè)計(jì)師采用PCI總線和Rambus總線,不同的時(shí)鐘使并行測(cè)試這些IP核極為復(fù)雜。假如這些IP核的時(shí)鐘呈整數(shù)倍關(guān)系,可選的測(cè)試方法有很多,但是遇到它們的時(shí)鐘不呈整數(shù)倍時(shí),則在同一測(cè)試設(shè)備中,需要多個(gè)時(shí)域。也就是被測(cè)器件的各引腳的工作狀態(tài)處于異步狀態(tài),即一些引腳以６６MHz／s工作,另一些引腳以８００Mb/s工作。因此,半導(dǎo)體測(cè)試的下一步工作就是要解決這類異步測(cè)試問題。現(xiàn)在,各IP核供貨商采用的不是同一種可測(cè)性設(shè)計(jì)策略,對(duì)被測(cè)IP核的接入方式也各不相同。因此,需要制定IP核接入標(biāo)準(zhǔn)和可測(cè)性設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。
???提高測(cè)試模擬IC的速度
????另一個(gè)要解決的測(cè)試問題是如何發(fā)展可測(cè)性設(shè)計(jì)、內(nèi)置自測(cè)試和其它數(shù)字測(cè)試技術(shù),以滿足器件的模擬測(cè)試。從上市的時(shí)間的觀點(diǎn)來看,這可能是關(guān)鍵問題。IC測(cè)試設(shè)備制造商能解決以Gb/s工作的數(shù)字電路和高速串行通信端口的測(cè)試問題。但測(cè)試混合信號(hào)器件中模擬部分的難度就很大。一些器件可能是數(shù)字器件,但具有模擬特性。如局域網(wǎng)接口電路。這種電路的測(cè)試很復(fù)雜、費(fèi)時(shí)、難以實(shí)現(xiàn)。今后,IC測(cè)試設(shè)備制造商的另一個(gè)任務(wù)就是要提高這類器件的測(cè)試速度。
采用開放式結(jié)構(gòu),適應(yīng)通信測(cè)試的需求
????通信測(cè)試儀器制造商正面臨新技術(shù)、新標(biāo)準(zhǔn)和更短的產(chǎn)品壽命周期的挑戰(zhàn)。許多通信設(shè)備制造商將向市場(chǎng)推出采用無線因特網(wǎng)等新技術(shù)的產(chǎn)品。他們一邊推出新產(chǎn)品,一邊設(shè)計(jì)性能更高的新產(chǎn)品。因此,它們需要測(cè)試儀器廠商提供易于升級(jí)的測(cè)試儀器,以適應(yīng)采用最新技術(shù)的通信設(shè)備的測(cè)試需求。所以,這類通信儀器將廣泛采用開放式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、模塊化和靈活的硬件與軟件結(jié)構(gòu)。
開發(fā)適應(yīng)高速網(wǎng)測(cè)試的網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀
