低ESR元件需要更嚴(yán)格的測(cè)試和測(cè)量技術(shù)
為滿足不斷變化的需求,電容器制造商必須每一年半就使ESR減半,未來(lái)的微處理器需要等效串聯(lián)電阻小于10mΩ的電容器．
QuadTech公司的1930型電容測(cè)量?jī)x器能夠滿足元件技術(shù)進(jìn)步對(duì)于測(cè)試和測(cè)量提出的挑戰(zhàn)
另一個(gè)方面,現(xiàn)代電池技術(shù)的改進(jìn)已經(jīng)使得電池在縮小尺寸的同時(shí)不會(huì)減小容量,為滿足消費(fèi)者對(duì)于電池壽命較長(zhǎng)的移動(dòng)電子產(chǎn)品的需求,設(shè)計(jì)者已經(jīng)使得系統(tǒng)變得更加有效。
測(cè)量需要考慮的問(wèn)題
對(duì)于任何一種形式的測(cè)量,當(dāng)測(cè)量參數(shù)變得非常小或非常大時(shí)測(cè)量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性都會(huì)成為問(wèn)題。低ESR測(cè)量同其他任何極低阻抗測(cè)量一樣需要注意誤差源的減少,包括被測(cè)量裝置四端連接引起的誤差。
接觸電阻是低阻抗測(cè)量中的一個(gè)主要誤差源。當(dāng)ESR值減小時(shí),即使１mΩ的變化都十分明顯,因此,保持最大化的接觸區(qū)域﹑清潔接觸和連接裝置的正確放置就顯得更加重要。
通過(guò)噪音和相干信號(hào)的差分耦合可以減少外部的電干擾,這將改善測(cè)量的質(zhì)量和可重復(fù)性。將激勵(lì)電流磁耦合到測(cè)量通道將會(huì)得到想要的信號(hào)以改變測(cè)量。如果電纜線和連接系統(tǒng)的形狀改變,測(cè)量系統(tǒng)就會(huì)積累誤差。
最后,有必要知道系統(tǒng)的極限,對(duì)于任何一個(gè)精確測(cè)量,所有定性和定量誤差源都是十分重要的。
趨勢(shì)
在任何數(shù)字設(shè)計(jì)中,尤其是基于微處理器的系統(tǒng),轉(zhuǎn)換電流給電力分布系統(tǒng)提出了巨大的要求。當(dāng)系統(tǒng)頻率增加而系統(tǒng)供應(yīng)電壓減少時(shí),這種要求變得更大。
現(xiàn)代系統(tǒng)要求擁有比過(guò)去更高電流能力的電力供應(yīng),并且負(fù)載瞬變值在３０～８０Ａ／μs之間。電纜線和電路中的電阻和電感阻止峰電流需求時(shí)的電力供應(yīng),所以安裝旁路電容貯存能量,供應(yīng)開(kāi)關(guān)時(shí)較高的瞬時(shí)電流需求,同時(shí)還可阻止輸出電力的降低。
電容器內(nèi)部的任何能量損耗都會(huì)限制其電力的供應(yīng)能力,同時(shí)還引起電容器變熱,從而降低系統(tǒng)效率。在移動(dòng)電子裝置中,較低的系統(tǒng)效率會(huì)縮短電池壽命,或者需要使用容量較大的電池。
為提供較充足的解耦電流供應(yīng)并保持較低的電容損耗,電容器必須在高頻時(shí)擁有較低的阻抗。這就需要一個(gè)低ESR電容器。
微處理器技術(shù)的進(jìn)步以及對(duì)于延長(zhǎng)電池壽命的需求已經(jīng)成為低ESR電容器需求的技術(shù)驅(qū)動(dòng)力。
電容器制造商已經(jīng)引進(jìn)了新的技術(shù)并改進(jìn)處理過(guò)程以滿足對(duì)低ESR的需求�，F(xiàn)在對(duì)于工業(yè)發(fā)展趨勢(shì)的注重顯得格外重要,以確保測(cè)試和測(cè)量方法能夠跟上元件技術(shù)的發(fā)展。
什么是ESR？
