雙聯電位器的可靠性研究
雙聯電位器的可靠性研究
當雙聯電位器旋轉時可出現四種狀態(tài)：即引腳3與引腳1相連，引腳3與引腳2及引腳1全相連；引腳3與引腳2相連，引腳3與引腳2及引腳1全斷開。
在實際使用中，一般將引腳3接地作為數據輸入端。而引腳1、2作為可靠性,研究數據輸出端與單片機I/O 口相連。如圖2中所示，將引腳1與單片機的P1.0相連，引腳2與單片機的P1.1相連。當雙聯電位器左旋或右旋時，P1.0和P1.1就會周期性地雙聯電位器產生圖1所示的波形，如果是12點的雙聯電位器旋轉一圈就會產生12組這樣的波形，24點的雙聯電位器就會產生24組這樣的波形
元器件可靠性問題
元器件可靠性問題即基本失效率的問題，這是一種隨機性質的失效，與質量問題的區(qū)別是元器件的失效率取決于工作應力水平。在一定的應力水平下，元器件的失效率會大大下降。為剔除不符合使用要求的元器件，包括電參數可靠性,研究不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩(wěn)定性差、早期失效等，應進行篩選試驗，這是可靠性,研究一種非破壞性試驗。通過篩選可使元器件失效率降低1～2個數量級，當然篩選試驗代價(時間與費用)很大，但綜合維修、后勤保障、整架雙聯電位器聯試等還是合算的，研制周期也不會延長。電源設備主要元器件的篩選試驗一般要求：
①電阻在室溫下按技術條件進行100％測試，剔除不合格品。
②普通電容器在室溫下按技術條件進行100％測試，剔除不合格品。
③接插件按技術條件抽樣檢測各種參數。
④半導體器件按以下程序進行篩選：
目檢初測高溫貯存高低溫沖擊電功率可靠性,研究老化高溫測試低溫測試常溫測試
篩選結束后應計算剔除率Q 式中：N——受試樣品總數；n——被剔除的樣品數；
如果Q超過標準規(guī)定的上限值，則本批元器件全部不準上機，并按有關規(guī)定處理。
在符合標準規(guī)定時，則將篩選合格的元器件打漆點標注，然后入專用庫房供裝機使用。
