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場效應(yīng)管的主要參數(shù)
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場效應(yīng)管的主要參數(shù)  2012/4/13

直流參數(shù)
交流參數(shù)
極限參數(shù)


一、開啟電壓UT

      開啟電壓是MOS增強型管的參數(shù),柵源電壓小于開啟電壓的絕對值,場效應(yīng)管不能導(dǎo)通。

二、夾斷電壓UP

      夾斷電壓是耗盡型FET的參數(shù),當(dāng)UGGS=UP時,漏極電流電流為零。

三、飽和漏極電流IDSS

       耗盡型場效應(yīng)三極管當(dāng)UGS=0時所對應(yīng)的漏極電流。

四、直流輸入電阻RGS

       柵源間所加的恒定電壓UGS與流過柵極場效應(yīng)管,場效應(yīng)管的主要參數(shù)電流IGS之比結(jié)型場效應(yīng)三極管,反偏時RGS約大于197Ω
       絕緣柵場效應(yīng)三極管RGS約是109~1015Ω

五、漏源擊穿電壓BUDS

       使ID開始劇增時的UDSо

六、柵源擊穿電壓BUGS

       JFET:反向飽和電流劇增時的柵源電壓
       MOS:使SiO2絕緣層擊穿的電壓

1、低頻跨導(dǎo)gm

      低頻跨導(dǎo)反映了場效應(yīng)管,場效應(yīng)管的主要參數(shù)柵壓對漏極電流控制作用

dfs

gm的求法:

    圖解法--gm實際就是轉(zhuǎn)移特性曲線的斜率
    解析法:如增強型MOS管存在ID=K(UGS-UT)2

   shio

2、襯底跨導(dǎo)gmb

      反映出了襯底偏置場效應(yīng)管,場效應(yīng)管的主要參數(shù)電壓對漏極電流ID的控制作用

  xi

3、漏極電阻rds

 yes 

反映了UDS對ID的影響,實際上是輸出特性上工作點切線上的斜率

4、導(dǎo)通電阻Ron

gong

   在恒阻區(qū)內(nèi)

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