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鍍層測厚儀,鍍層測厚儀的分類,鍍層測厚儀參數指標等
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鍍層測厚儀,鍍層測厚儀的分類,鍍層測厚儀參數指標等  2011/10/3

目錄

  • 要求
  • 主要特點
  • 主要技術指標
鍍層測厚儀

要求

  •   1.不破壞的測量下具高精密度。

      2.極小的測定面積。

      3.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。

      4.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜。

      5.同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。

主要特點

  •   1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度.

      2.電鍍層可以是單層/雙層/三層

      3.鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測量

      4.有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟件

      5.易操作/易維護

      6.準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制


主要技術指標

  •   探頭型號:MIFE500

      測量單位:um或mil

      測量范圍:0-500um

      反應速度:1600ms

      重復精度:±(0.1um+0.8讀數)

      測量精度:±(0.3um+2讀數)

      最小測量面積:直徑7mm的圓

      最小曲率半徑:凸半徑4mm,凹半徑5mm

      操作溫度:0-50℃

      電源:主機供電

      尺寸:120mm×12mm×12mm

      重量:95g

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