EMC測(cè)試,EMC測(cè)試的分類,EMC測(cè)試參數(shù)指標(biāo)等
1.EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測(cè)試
此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之 電器產(chǎn)品的影響。
EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？
Radiated Emission －輻射騷擾測(cè)試
Conducted Emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試
Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試
Flicker－電壓變化與閃爍測(cè)試
2. EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）---電磁抗擾度測(cè)試
此測(cè)試之目的為：檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。
EMS測(cè)試主要包含什么內(nèi)容？
ESD－靜電抗擾度測(cè)試
RS－射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試
CS－射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試
DIP－電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試
SURGE－浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試
EFT－電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
PFMF－工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
雜散定義：指用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)調(diào)制時(shí)在除載頻和由于正常調(diào)制和切換瞬態(tài)引起的邊帶及鄰道以外 離散頻率上的輻射（既遠(yuǎn)端輻射）。雜散輻射按其來源可分為傳導(dǎo)型和輻射型兩種。
傳導(dǎo)雜散：指在天線的接頭處50歐姆負(fù)載上測(cè)得的任意離散信號(hào)的電平功率。
輻射雜散：測(cè)試設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互連電纜引起的雜散騷擾。測(cè)試條件首選在電波暗室內(nèi)進(jìn)行，或是在戶外進(jìn)行。
測(cè)試依賴3個(gè)方面因素：方法、技術(shù)、設(shè)備。方法由測(cè)量原理和測(cè)試設(shè)備的使用方法兩者來確定，技術(shù)是為了得到正確的測(cè)試結(jié)果（較高的準(zhǔn)確度）而采取的一切測(cè)試手段，設(shè)備則是體現(xiàn)上述兩個(gè)因素為測(cè)試服務(wù)的一切技術(shù)裝置。這些都必須標(biāo)準(zhǔn)化，以保證測(cè)試具有重現(xiàn)性和真實(shí)性。
EMC測(cè)試條件由測(cè)試方法決定。具體測(cè)試方法分為在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行的試驗(yàn)臺(tái)法和在實(shí)際使用條件下進(jìn)行的現(xiàn)場(chǎng)法。要模擬現(xiàn)場(chǎng)可能碰到的所有干擾現(xiàn)象是不可能的，特別是現(xiàn)場(chǎng)法具有無法克服的局限性。但通過標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試可以較全面地獲取被測(cè)設(shè)備EMC性能如何的信息。為此，國(guó)際上推薦首先采用試驗(yàn)臺(tái)法，除非無法在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行，一般不用現(xiàn)場(chǎng)法。
