1. 保護(hù)板過(guò)充電檢測(cè)電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中,保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電保護(hù)電壓
測(cè)試范圍為 3.870V—4.650V
測(cè)試精度為 <0.0025V
2. 保護(hù)板過(guò)充電解除電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中,保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電解除電壓
測(cè)試范圍為 3.550V—4.650V
測(cè)試精度為 <0.0025V
3. 保護(hù)板過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間
測(cè)試范圍為 <5000mS
測(cè)試精度為 <1mS
4. 保護(hù)板過(guò)放電檢測(cè)電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中,保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電檢測(cè)電壓
測(cè)試范圍為 1.600V—2.700V
測(cè)試精度為 <0.0025V
5. 保護(hù)板過(guò)放電解除電壓測(cè)試
測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中,保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電解除電壓
測(cè)試范圍為 1.600V—3.600V
測(cè)試精度為 <0.0025V
6. 保護(hù)板過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間
測(cè)試范圍為 <5000mS
測(cè)試精度為 <1mS
7. 保護(hù)板靜態(tài)耗電測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的靜態(tài)耗電
測(cè)試范圍為 <48μA
測(cè)試精度為 <1μA
8. 保護(hù)板內(nèi)阻測(cè)試
測(cè)試保護(hù)板的內(nèi)阻,包括(B+ P+間電阻)+(B-P-間電阻)
測(cè)試范圍為 <390mΩ+390mΩ
測(cè)試精度為 <1 mΩ
1, 快速測(cè)試,可以在極短的時(shí)間內(nèi)判斷一塊保護(hù)板的功能好壞。
2, 精確測(cè)試,可以在很短的時(shí)間內(nèi),獲得保護(hù)板的各項(xiàng)精確的測(cè)試數(shù)據(jù),各項(xiàng)電壓參數(shù)精確到1mV,自耗電精確到0.1uA,過(guò)電流數(shù)值精確到0.01A,內(nèi)阻參數(shù)精確到1mΩ。
3, 延時(shí)時(shí)間測(cè)試,可以測(cè)試過(guò)保護(hù)板的過(guò)壓保護(hù)延時(shí),過(guò)放電保護(hù)延時(shí),以及過(guò)電流保護(hù)延時(shí)時(shí)間,各項(xiàng)時(shí)間參數(shù)精確到1mS,給精確測(cè)試數(shù)據(jù)提供最準(zhǔn)確的設(shè)置參數(shù),從而獲得最快的測(cè)試速度與最高的精確度。