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耿氏器件,耿氏器件的分類,耿氏器件參數(shù)指標(biāo)等
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耿氏器件,耿氏器件的分類,耿氏器件參數(shù)指標(biāo)等  2011/10/3

目錄

  • 耿氏器件的研究者
  • 耿氏器件的由來
  • 耿氏器件的效應(yīng)原理
耿氏器件

耿氏器件的研究者

  •   耿氏器件的研究者是美國物理學(xué)家耿 J.B。

      1928年5月13日生于埃及開羅。1948年獲劍橋大學(xué)三一學(xué)院文學(xué)士學(xué)位。1948~1953年在倫敦埃利奧特兄弟有限公司任研究工程師。1953~1956年任皇家雷達(dá)部隊(duì)初級(jí)研究員。1956~1959年在加拿大溫哥華市任不列顛哥倫比亞大學(xué)助理教授。1959年以后在國際商業(yè)機(jī)器公司沃森研究中心任職。耿在半導(dǎo)體器件、半導(dǎo)體中熱電子現(xiàn)象等方面獲多項(xiàng)專利。1963年發(fā)現(xiàn)將3000伏/厘米的電場(chǎng)加到0.005英寸的砷化鎵樣品上時(shí)產(chǎn)生微波電流振蕩,研制成耿氏二極管振蕩器,為最簡單的一種微波振蕩器。

耿氏器件的由來

  •   1961~1962年,英國B.K.里德利、T.B.沃特金斯和美國C.希爾薩姆等提出“電子轉(zhuǎn)移”的概念和機(jī)理。他們提出在半導(dǎo)體導(dǎo)帶中存在著“多能谷”機(jī)理,當(dāng)外加電場(chǎng)增加到一定值時(shí),電子能足夠快地從低有效質(zhì)量的主能谷轉(zhuǎn)移到高有效質(zhì)量的子能谷,這時(shí)電子的速度(v)與外電場(chǎng)(E)的關(guān)系應(yīng)出現(xiàn)dv/dE<0的情形。他們預(yù)言在GaAs、InAs、GaSb和InSb等半導(dǎo)體中都具有“電子轉(zhuǎn)移效應(yīng)”所必需的能帶結(jié)構(gòu)。里德利還指出:當(dāng)半導(dǎo)體樣品上出現(xiàn)電子轉(zhuǎn)移效應(yīng)而產(chǎn)生負(fù)微分電導(dǎo)時(shí),樣品中還會(huì)出現(xiàn)電場(chǎng)的不均勻性而形成“高場(chǎng)疇”。高場(chǎng)疇由空間電荷偶極層組成,沿電子漂移的方向運(yùn)動(dòng),在陽極上消失,然后在陰極上又形成新的疇。1963年J.B.耿在研究半導(dǎo)體GaAs 的高場(chǎng)特性時(shí)觀察到電流-電壓特性的不規(guī)則振蕩現(xiàn)象,其頻率高達(dá)幾千兆赫。經(jīng)過精密的實(shí)驗(yàn),證實(shí)了這種現(xiàn)象就是前面所述的電子轉(zhuǎn)移效應(yīng),實(shí)驗(yàn)中還觀察到高場(chǎng)疇的運(yùn)動(dòng)。并且耿為此獲得諾貝爾獎(jiǎng)金物理學(xué)獎(jiǎng)。

耿氏器件的效應(yīng)原理

  •   耿氏效應(yīng)與半導(dǎo)體的能帶結(jié)構(gòu)有關(guān):砷化鎵導(dǎo)帶最低能谷1位于布里淵區(qū)中心,在布里淵區(qū)邊界L處還有一個(gè)能谷2,它比能谷1高出0.29ev.當(dāng)溫度不太高時(shí),電場(chǎng)不太強(qiáng)時(shí),導(dǎo)帶電子大部分位于能谷1.能谷1曲率大,電子有效質(zhì)量小.能谷2曲率小,電子有效質(zhì)量大() .由于能谷2有效質(zhì)量大,所以能谷2的電子遷移率比能谷1的電子遷移率小,即.當(dāng)電場(chǎng)很弱時(shí),電子位于能谷1,平均漂移速度為.當(dāng)電場(chǎng)很強(qiáng)時(shí),電子從電場(chǎng)獲得較大能量由能谷1 躍遷到能谷2,平均漂移速度為,由于,所以在速場(chǎng)特性上表現(xiàn)為不同的變化速率(實(shí)際上和是速場(chǎng)特性的兩個(gè)斜率.即低電場(chǎng)時(shí),高電場(chǎng)時(shí)).在遷移率由變化到的過程中經(jīng)過一個(gè)負(fù)阻區(qū).在負(fù)阻區(qū),遷移率為負(fù)值.這一特性也稱為負(fù)阻效應(yīng).其意義是隨著電場(chǎng)強(qiáng)度增大而電流密度減小.

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