1、測(cè)量
。1)輸入端口
a、30 MHz — 2400 MHz 的高頻通道端口
b、10 Hz — 30 MHz的低頻通道端口
c、晶振插孔為晶體測(cè)量端口
。2)頻率測(cè)量
a、量程:
C 0ㄈh 為“0”檔 測(cè)量頻率為30 MHz — 2400MHz
C 1ㄈh 為“1”檔 測(cè)量頻率為30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 為“2”檔 測(cè)量頻率為100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 為“3”檔 測(cè)量頻率為10 Hz — 30 MHz
b、分辯率:
1Hz, 10Hz, 100Hz
c、精度:
±1計(jì)數(shù)值±基準(zhǔn)時(shí)間誤差x 頻率
d、閘門時(shí)間:
0.1S, 1S, 10S
e、輸入靈敏度:
15 MV
f、輸入阻抗:
50 Ω/ 1 MΩ
j、最大輸入電壓:
30 V
。3)計(jì)數(shù)測(cè)量
在第“4”檔位( C4ㄈh)由10 Hz — 30 MHz插口輸入,分辯率為±1輸入計(jì)數(shù)值。
。4)晶體測(cè)量
在“2”和“3”檔位上從面板晶振輸入插孔插入欲測(cè)之晶體,測(cè)試晶振范
圍為3 MHz — 24 MHz。
。5)電源電壓:AC 220 V ± 10% ;頻率50 Hz
。6)功耗:3 W
。7)溫度:使用范圍 -5℃ — +50℃、存放運(yùn)輸 -40℃ — +60℃
。8)濕度:10-90 % RH、存放運(yùn)輸 5-90 % RH
(9)預(yù)熱時(shí)間:10分鐘
。10)尺寸:200 x 60 x 160 (mm)
。11)重量:約0.5 Kg