盡管各種新技術(shù)層出不窮,如光學(xué)與X射線檢查、基于飛針或針床的電性測(cè)試等,但功能測(cè)試依然是保證產(chǎn)品到最終應(yīng)用環(huán)境立刻就能工作必不可少的手段�，F(xiàn)代電子產(chǎn)品中內(nèi)置自測(cè)(BIST)應(yīng)用越來越多,這應(yīng)該大力提倡,因?yàn)樗山档凸δ軠y(cè)試的成本,但也不能完全消除功能測(cè)試。如果應(yīng)用的場(chǎng)合非常重要(如軍事、航空、汽車、交通、醫(yī)療等領(lǐng)域),或者最終產(chǎn)品的成本及復(fù)雜程度(如電信網(wǎng)絡(luò)、發(fā)電站等)非常高,那么更需要保證產(chǎn)品自身以及與其它系統(tǒng)合
盡管各種新技術(shù)層出不窮,如光學(xué)與X射線檢查、基于飛針或針床的電性測(cè)試等,但功能測(cè)試依然是保證產(chǎn)品到最終應(yīng)用環(huán)境立刻就能工作必不可少的手段。現(xiàn)代電子產(chǎn)品中內(nèi)置自測(cè)(BIST)應(yīng)用越來越多,這應(yīng)該大力提倡,因?yàn)樗山档凸δ軠y(cè)試的成本,但也不能完全消除功能測(cè)試。如果應(yīng)用的場(chǎng)合非常重要(如軍事、航空、汽車、交通、醫(yī)療等領(lǐng)域),或者最終產(chǎn)品的成本及復(fù)雜程度(如電信網(wǎng)絡(luò)、發(fā)電站等)非常高,那么更需要保證產(chǎn)品自身以及與
其它系統(tǒng)合在一起時(shí)工作正常,這時(shí)功能測(cè)試將是必須的。
什么是功能測(cè)試
功能測(cè)試涉及模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、
RF和
電源電路,通常要用不同的測(cè)試策略。測(cè)試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證(確定沒有硬件錯(cuò)誤),以彌補(bǔ)前面測(cè)試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元(UUT)上,同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng),并完全控制其執(zhí)行過程。
功能測(cè)試可在產(chǎn)品制造生命周期不同階段實(shí)施,首先是工程開發(fā)階段,在系統(tǒng)生產(chǎn)驗(yàn)證前確認(rèn)新產(chǎn)品功能;然后在生產(chǎn)中也是必須的,作為整個(gè)流程的一部分,通過昂貴的系統(tǒng)測(cè)試降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本(遺漏成本);最后,在發(fā)貨付運(yùn)階段也是不可缺少的,它可以減少在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)維修的費(fèi)用,保證功能正常而不會(huì)被送回來。如果你經(jīng)常坐飛機(jī),而且也知道現(xiàn)代飛機(jī)里裝有多少
電子設(shè)備,那么你一定會(huì)感謝這最后工作所作的一切。
如上所述,功能測(cè)試是在最終系統(tǒng)測(cè)試或集成測(cè)試之前,可用于
線路板或
模塊。如今高集成電子設(shè)備已將這些概念混淆,線路板和模塊又都放在一個(gè)可更換模組中。雖然很多測(cè)試儀結(jié)構(gòu)類似,但測(cè)試程序以及線路板和模塊的運(yùn)送過程卻大不相同,而且測(cè)試地點(diǎn)也有很大影響,是在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試維修(前向測(cè)試),還是在維修中心,或送回工廠是完全不同的。
功能測(cè)試有
多種形式,這些形式在成本、時(shí)間、效果和維護(hù)性方面各有優(yōu)缺點(diǎn),我們將其分為下面四種基本類型,分別分析其特性。
1．模型測(cè)試系統(tǒng)
2．測(cè)試臺(tái)
3．專用測(cè)試設(shè)備(
STE)
4．自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)
模型測(cè)試系統(tǒng)
從理論上說檢驗(yàn)一個(gè)設(shè)備(線路板或模塊)功能最簡(jiǎn)單的方法就是把它放在和真的環(huán)境一樣的模型系統(tǒng)或子系統(tǒng)中,然后看它工作是否正常。如果正常,我們可以有很大把握認(rèn)為它是好的,如果不正常,技術(shù)人員將進(jìn)行檢測(cè)希望找出失效的原因以指導(dǎo)維修。但實(shí)際上,這種插入上電方式有很多缺點(diǎn)而且很少有效,雖然它有時(shí)可作為其它測(cè)試方案的補(bǔ)充。
首先,子系統(tǒng)的成本通常比傳統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)要高,尤其是后者是通用設(shè)備可用于多種場(chǎng)合的時(shí)候。此外,模型環(huán)境下的子系統(tǒng)維護(hù)非常復(fù)雜、耗時(shí)且成本高。集中式維修中心很快就會(huì)被不斷出現(xiàn)的模型子系統(tǒng)填滿,而每個(gè)都需要特定的文件和培訓(xùn)、操作指導(dǎo)與維護(hù)。同時(shí),僅僅將被測(cè)設(shè)備插在系統(tǒng)中還不夠,還必須執(zhí)行一系列正確的操作步驟以保證其工作正常,或檢查它為什么不能正常工作。這些專門的測(cè)試步驟成本和復(fù)雜性都非常高,而且很耗時(shí),在操作中還需要熟練的技術(shù)人員來執(zhí)行。最后,即使進(jìn)行了專門的改造,在系統(tǒng)上進(jìn)行單元調(diào)試也很麻煩且不實(shí)際,操作流程控制上的局限性以及缺乏診斷工具很快使這種方法在經(jīng)濟(jì)上變得不可接受。
測(cè)試臺(tái)
測(cè)試臺(tái)是一個(gè)常規(guī)測(cè)試環(huán)境,包括與被測(cè)設(shè)備之間的激勵(lì)/響應(yīng)接口、專門測(cè)試規(guī)程規(guī)定的測(cè)試序列與控制。激勵(lì)與響應(yīng)通常由標(biāo)準(zhǔn)電源及實(shí)驗(yàn)儀器、專用
開關(guān)、負(fù)載以及終端自定義電子設(shè)備(如數(shù)字激勵(lì))提供。在這里夾具是非常重要的一個(gè)部分,可提
